Delcom 30C9 非接觸式表面電阻量測
Delcom的30C9 非接觸式表面電阻量測系統 採用非破壞式的渦電流技術,透過測量線圈中阻抗的變化來測量待測物的表面電阻。是一種快速且精準的量測法。在樣品無法使用四點探針量測的情況下,無論是半導體,面板,太陽能,材料,等相關應用的量測,絕對是您量測表面電阻的最佳利器。量測,您有更好的選擇。
渦電流量測表面電阻的優勢
-非破壞性量測
-可穿透絕緣層量測至導電層
-可即時量測移動中的樣品
-即時的品質監控檢查
-減少產品損害問題以及降低人工成本
-不破壞待測物表面
-解決鍍層產生的問題
-量測速度較四點探針提升
-避免使用到不合格的材料
-小型的手持型單面量測頭,可應用於較厚或是曲面材料量測
-適用於較大面積的或是已製程的導電材料, 例如:面板,窗戶,玻璃(Low-E)等...
-可量測表面電導, 表面電阻, 材料厚度(在已知電阻率的條件下),以及電阻率(在已知厚度的條件下)
-透過LCD,軟體,瀏覽器或PC的應用程式來讀取數據
-體積小且單點量測的分離式探頭
-簡單的一鍵操作量測
-軟體包含自動樣品量測, 讀取, 記錄, 手動mapping, 判定pass/fail並導出到.CSV檔和Microsoft Excel
-使用Modbus或是網路方式來遠距讀取以及探頭控制
-可自行更換探頭來調整量測範圍
-可透過軟體同時監控八組量測頭
-全自動溫度補償
玻璃,晶圓,薄膜,觸控螢幕,平面顯示器,ITO,TCOs,奈米碳管(carbon nanotube),石墨烯(graphene),奈米銀絲(silver nanowire),半導體材光電材料,建築用玻璃(Low-E),智能玻璃(smart glass),OLED,LED,應用包裝/裝飾薄膜(紙),金屬標籤,微波接收器,反射材料,軟性電路,軟性電路板,金屬薄膜電容器,低可偵測技術(Low observables),電池和燃料電池,天線應用,防靜電薄膜等應用...