支持 156 × 156 mm Solar Cell
适用于太阳能电池样品的表面电阻测量，可用于检查电池片制程均匀性与电性质量。
AiT CMT-SR2000N-PV｜半自动太阳能电池四探针测量系统
支点科技代理的 AiT CMT-SR2000N-PV 是一套用于 Solar PV 电池片的半自动四探针测量系统，适用于 156 × 156 mm 太阳能电池样品。系统搭配英国 Jandel 高稳定性探头，可测量表面（片）电阻（Ω/□）与体积电阻率（Ω·cm），支持太阳能电池及相关材料的电性检测。多功能 Mapping 软件提供多种图形显示与分析方式，便于查看样品不同测点的测量结果、分布和均匀性，作为制程评估与质量管理的参考。系统配置可依样品尺寸、测量位置、预期电性范围、分析需求及现有品管流程评估；实际量程、测点规划、探头配置和数据输出方式，需按样品与检测目的确认。
CMT-SR2000N-PV 太阳能电池表面电阻测量应用
AiT CMT-SR2000N-PV 是一套半自动四探针测量系统，适用于 156 × 156 mm Solar PV 电池片的表面电阻测量，可支持太阳能材料研发、制程监控与质量管理。实际导入条件需根据样品尺寸、材料结构、电阻范围、测量点位和分析需求确认。
多种测量单位显示
测量结果可根据需求显示 ohm、ohm/sq、ohm·cm 与 S 等单位，便于判读材料与制程数据。
单机操作与电脑软件控制
可根据现场使用情境选择单机操作，或通过电脑软件进行测量控制、数据整理和后续分析。
2D / 3D 分析图形
分析软件可根据测量数据生成 2D 等高线图或 3D 图形，帮助查看不同位置的电阻分布与均匀性。
JANDEL 探头配置
配备 JANDEL 探头，作为接触式四探针表面电阻测量的核心配置。实际测量条件需根据样品表面状态与流程确认。
选型提醒：如需测量 156 × 156 mm 太阳能电池片的表面电阻、片电阻分布、2D / 3D Mapping 或制程均匀性，建议先确认样品尺寸、预估电阻范围、测量点位、数据输出格式及内部质量管理流程。
产品规格
以下规格可作为 Solar Cell 156 × 156 mm 太阳能电池片表面电阻、片电阻与体积电阻测量的参考。实际测量条件请根据样品尺寸、材料结构、电阻范围、测量点位及质量管理流程确认。
| 规格项目 | CMT-SR2000N-PV 规格说明 |
|---|---|
| 测量范围 | 1 mΩ/sq～2 MΩ/sq |
| 操作方式 | 将样品放置于测量平台并按下测量键；设备自动调整量程，并显示包含小数点与倍率的测量读数。 |
| JANDEL 四点探针 | 采用 JANDEL 快速安装接头／转换器设计，无需特殊工具或对准装置，可在数分钟内完成安装；整机标准配置 JANDEL 探头。 |
| 测量数据显示 | 测量数据直接显示于设备 LCD 面板。 |
| 测量速度 | 约 2±1 秒／点 |
| 内部元件精度 | ±0.5%（高精度电阻） |
| 维护与服务 | 采用微处理器技术，提供稳定可靠的运行；维护时只需更换主机板。 |
备注：测量范围、测点规划与探头配置应结合样品尺寸、表面状态、预期电阻范围及检测目的确认。