TS-26D卧式分光测色仪

TS-26D卧式分光测色仪采用D/8照明结构,支持SCI/SCE测量,配备组合全光谱LED与UV光源。提供三种测量口径:MAV Φ8/Φ10 mm、SAV Φ4/Φ5 mm、SSAV 1 × 3 mm,可根据样品尺寸与测量区域选择。适用于塑料电子、涂料油墨、纺织印染、印刷、陶瓷、包装及研发品管,可用于光谱反射率、L*a*b*与ΔE色差评估。荧光材料、增白剂或特殊光源样品,请依据样品与检验标准确认UV、SCI/SCE及口径条件。如需了解配置或测量方案,请联系支点科技。

TS-26D卧式分光测色仪|三种口径、UV、SCI/SCE与色彩品管追溯应用

3nh TS-26D卧式分光测色仪采用D/8照明方式,配置组合全光谱LED与UV光源,支持SCI/SCE测量。提供MAV Φ8/Φ10 mm、SAV Φ4/Φ5 mm及SSAV 1 × 3 mm三种口径,可根据样品大小、测点和检测目的选择测量条件。

适用于塑料电子、油漆油墨、纺织印染、印刷、陶瓷、包装材料与研发品管,可用于光谱反射率、L*a*b*与ΔE色差、标准色管理、供应商验收和制程追溯。若样品含荧光材料、增白剂或对特殊光源有反应,请按样品特性、检测标准和品管流程确认UV条件。

TS-26D适用范围

塑料电子与零件色差管理

适用于塑料外壳、电子零件、注塑件、涂装件和供应商来料检测,协助建立批次色差比较与验收流程。

油漆、油墨与涂料研发

适用于涂料配方、油墨颜色、标准色比较及研发样品评估。若表面光泽差异明显,请确认SCI/SCE测量条件。

纺织印染与印刷色彩控制

可用于布料、染整、印刷品和包装材料比色。若样品含荧光材料、增白剂或对特殊光源有反应,请确认UV测量条件。

陶瓷、粉体与小面积样品

三种口径可配合不同测点面积。小面积、曲面或不均匀样品需提供样品信息,以确认口径、治具与定位方式。

TS-26D产品特点

三种测量口径

MAV Φ8/Φ10 mm、SAV Φ4/Φ5 mm、SSAV 1 × 3 mm,可按样品面积和测点选择;SSAV准确性略低,可用于色差测试。

D/8与SCI/SCE

漫射照明、8°方向接收,可按品管方式比较包含或排除镜面反射的测量结果。

全光谱LED与UV光源

支持一般反射色彩测量,并可按样品评估荧光材料或增白剂的测量条件。

光谱与色差数据

用于反射率、L*a*b*、ΔE、标准色管理、批次比较和品管追溯。

TS-26D功能细节

高性能阵列传感器 采用大面积硅光电二极管双列40组阵列传感器,为光谱数据采集、色彩判定和批次比较提供测量基础。实际结果取决于样品、校正与操作流程。

高性能阵列传感器

采用大面积硅光电二极管双列40组阵列传感器,为光谱数据采集、色彩判定和批次比较提供测量基础。实际结果取决于样品、校正与操作流程。

组合全光谱LED与UV光源 可用于一般反射色彩测量,也可按需评估荧光材料、增白剂或特殊光源条件。是否启用UV应按样品特性和检测标准确认。

组合全光谱LED与UV光源

可用于一般反射色彩测量,也可按需评估荧光材料、增白剂或特殊光源条件。是否启用UV应按样品特性和检测标准确认。

重复性与台间差 原厂资料标示重复性ΔE*ab≤0.03、台间差ΔE*ab≤0.15,可供多台设备、跨厂区和长期品管参考。规格表列有测试条件;导入前请按实际校正、样品与测量流程确认。

重复性与台间差

原厂资料标示重复性ΔE*ab≤0.03、台间差ΔE*ab≤0.15,可供多台设备、跨厂区和长期品管参考。规格表列有测试条件;导入前请按实际校正、样品与测量流程确认。

多种色度指标 依供货版本和软件可评估白度、黄度、同色异谱指数、沾色与变色牢度、力份、遮盖度、8°光泽、555色调分类、黑度、CMYK色密度、光谱图、色差图、合格判定、颜色模拟与颜色偏向。部分孟塞尔功能由电脑软件实现。

多种色度指标

依供货版本和软件可评估白度、黄度、同色异谱指数、沾色与变色牢度、力份、遮盖度、8°光泽、555色调分类、黑度、CMYK色密度、光谱图、色差图、合格判定、颜色模拟与颜色偏向。部分孟塞尔功能由电脑软件实现。

摄像头取景定位 内置摄像头取景可协助观察测量区域,适用于局部测点、图纹、色块及印刷区域。小面积目标请先确认口径与定位方式。

摄像头取景定位

内置摄像头取景可协助观察测量区域,适用于局部测点、图纹、色块及印刷区域。小面积目标请先确认口径与定位方式。

卧式设计与便携使用 卧式设计可减少手持晃动,适用于实验室标准样、研发比对与生产抽测。曲面或不规则样品可能需要治具固定测点。

卧式设计与便携使用

卧式设计可减少手持晃动,适用于实验室标准样、研发比对与生产抽测。曲面或不规则样品可能需要治具固定测点。

双光路系统与自研算法 双光路系统配合自研算法,可用于评估抗干扰与测量稳定性,适用于塑料电子、涂料、纺织、印刷、陶瓷及包装等场景;实际表现需用代表性样品确认。

双光路系统与自研算法

双光路系统配合自研算法,可用于评估抗干扰与测量稳定性,适用于塑料电子、涂料、纺织、印刷、陶瓷及包装等场景;实际表现需用代表性样品确认。

丰富的颜色空间 支持CIE LAB、XYZ、Yxy、LCh、CIE LUV、s-RGB、HunterLab、βxy、DIN Lab99及Munsell(C/2),用于研发比较、建立标准色与跨部门品管沟通。

丰富的颜色空间

支持CIE LAB、XYZ、Yxy、LCh、CIE LUV、s-RGB、HunterLab、βxy、DIN Lab99及Munsell(C/2),用于研发比较、建立标准色与跨部门品管沟通。

三口径设计 三种口径为MAV Φ8/Φ10 mm、SAV Φ4/Φ5 mm和SSAV 1 × 3 mm,可按样品面积与测点选择。实际使用条件请依样品和品管规范确认。

三口径设计

三种口径为MAV Φ8/Φ10 mm、SAV Φ4/Φ5 mm和SSAV 1 × 3 mm,可按样品面积与测点选择。实际使用条件请依样品和品管规范确认。

3.5英寸触控屏 TFT全彩电容触控屏可显示色度值、色差结果及测量信息,方便实验室和制程抽测时查看。

3.5英寸触控屏

TFT全彩电容触控屏可显示色度值、色差结果及测量信息,方便实验室和制程抽测时查看。

良好的操作体验 操作界面适用于品管、研发与现场检测人员日常测量和数据判读。操作流程建议配合内部品管规范与培训。

良好的操作体验

操作界面适用于品管、研发与现场检测人员日常测量和数据判读。操作流程建议配合内部品管规范与培训。

单次与平均测量 可依检测需求切换单次和平均测量。样品纹理、颗粒或颜色分布不均时可评估平均测量,以降低测点差异;支持2–99次。

单次与平均测量

可依检测需求切换单次和平均测量。样品纹理、颗粒或颜色分布不均时可评估平均测量,以降低测点差异;支持2–99次。

PC端软件 依供货版本可搭配SQCX品质管理软件处理色彩数据、比较色差、监控品质及输出报告。购买前请确认软件是否包含及其功能。

PC端软件

依供货版本可搭配SQCX品质管理软件处理色彩数据、比较色差、监控品质及输出报告。购买前请确认软件是否包含及其功能。

TS-26D、TS-25D与TS-23D如何初步区分?

需要三种口径或小面积测量时可评估TS-26D;TS-25D可在购买前选择Φ8 mm或Φ4 mm;测量面积固定为Φ8 mm时可评估TS-23D。请按样品尺寸、测点、表面状态、检测目的和品管流程选择: TS-25D · TS-23D.

相关分光测色仪

可查看相关分类并比较适合实验室固定测量或快速批次检测的机型: 高阶手持分光色差仪, 3nh手持式分光测色仪, 高阶桌上型分光色差仪, 或比较 色差仪.

TS-26D常见问题

TS-26D适合测量哪些样品?

适用于塑料电子、油漆油墨、纺织印染、印刷、陶瓷、包装与研发品管。小面积、曲面、纹理或不均匀表面请先确认口径与定位方式。

TS-26D与TS-25D有什么区别?

TS-26D有Φ8 mm、Φ4 mm和1 × 3 mm三种口径;TS-25D可在购买前选择Φ8 mm或Φ4 mm。请按样品尺寸和测量区域选择。

SCI/SCE有什么用途?

SCI/SCE可用于观察表面光泽对色彩数据的影响。亮面、雾面或涂装样品应确认标准使用SCI、SCE或同时记录两种结果。

何时需要UV测量?

荧光材料、含增白剂样品或对特殊光源有反应的材料可评估UV条件;具体依样品、客户验收标准与品管流程确认。

何时选择平均测量?

样品均匀且测点明确时可用单次测量;纹理、颗粒或颜色不均时可评估平均测量,次数按样品与品管规范决定。

询价前建议提供哪些资料?

建议提供材质、尺寸、测量区域、表面与光泽、荧光或增白剂情况、色差公式、允收标准、SCI/SCE与UV要求,以及记录和报告需求。

需要确认TS-26D是否符合您的色彩品管流程?

可提供样品材质、测量区域、口径需求、色差公式、SCI/SCE与UV条件及客户验收规范,支点科技可协助评估TS-26D或其他3nh分光测色仪。

联系支点科技取得报价与选型建议

TS-26D卧式分光测色仪规格表

产品型号TS-26D
照明方式与标准D/8(漫射照明,8°方向接收);SCI/SCE测量;包含或排除UV测量。符合CIE No.15、GB/T 3978、GB 2893、GB/T 18833、ISO 7724-1、ASTM E1164、DIN 5033 Teil 7。
产品特性三种测试口径,用于实验室精密颜色分析与数据传递;适用于塑料电子、油漆油墨、纺织印染、印刷、陶瓷等行业的颜色测量与品质控制;可用于荧光样品测量。
积分球尺寸Φ40 mm
照明光源组合全光谱LED光源、UV光源
分光方式平面光栅分光
传感器硅光电二极管阵列(双列40组)
测量波长范围360–780 nm
波长间隔10 nm
半带宽10 nm
反射率测量范围0–200%
测量口径MAV:Φ8 mm / Φ10 mm;SAV:Φ4 mm / Φ5 mm;SSAV:1 × 3 mm。SSAV 1 × 3 mm准确性略低,可用于色差测试。
包含光方式可同时测量SCI/SCE
颜色空间CIE LAB、XYZ、Yxy、LCh、CIE LUV、s-RGB、HunterLab、βxy、DIN Lab99、Munsell(C/2)
色差公式ΔE*ab、ΔE*uv、ΔE*94、ΔE*cmc(2:1)、ΔE*cmc(1:1)、ΔE*00、DIN ΔE99、ΔE(Hunter)
其他色度指标WI(ASTM E313、CIE/ISO、AATCC、Hunter);YI(ASTM D1925、ASTM E313);同色异谱指数Mt;沾色牢度、变色牢度、力份、遮盖度、8°光泽度、555色调分类、黑度(My、dM)、CMYK色密度、同色异谱指数Milm、孟塞尔(部分功能通过电脑软件实现)
观察者角度2° / 10°
观测光源D65、A、C、D50、D55、D75、F1、F2(CWF)、F3、F4、F5、F6、F7(DLF)、F8、F9、F10(TPL5)、F11(TL84)、F12(TL83/U30)
显示内容光谱图与数据、样品色度值、色差值与图、合格/不合格结果、颜色模拟、颜色偏向
测量时间约1.5秒;同时测量SCI/SCE约3.2秒
重复性色度值:MAV/SCI,ΔE*ab≤0.03(预热并校正后,每隔5秒测量白板30次的平均值);光谱反射率:MAV/SCI标准偏差≤0.08%(400–700 nm范围≤0.18%)。
台间差MAV/SCI,ΔE*ab≤0.15(BCRA系列II 12块色板测量平均值)。
测量方式单次测量、平均测量(2–99次)
定位方式显示屏摄像头取景定位、稳定片定位
尺寸长×宽×高 = 169 × 73 × 87 mm
重量约600 g
电池电量锂电池,3.7 V,5000 mAh;8小时内约6000次测量
照明光源寿命5年或大于300万次测量
显示屏TFT全彩3.5英寸电容式触控屏
接口USB、Bluetooth® 5.0
存储数据标样1000笔、试样30000笔(一笔数据可同时包含SCI/SCE)
语言简体中文、English、繁体中文、俄语
操作温度范围0–40°C,0–85% RH(无凝结),海拔低于2000 m
存储温度范围−20–50°C,0–85% RH(无凝露)
标准配件电源供应器、数据线、说明书、品质管理软件(官网下载)、黑白校正盒、保护盖、腕带、Ø8 mm平台口径与尖口径、Ø4 mm平台口径与尖口径、1 × 3尖口径
可选配件微型打印机、粉末测试盒
注技术参数仅供参考,以实际销售产品为准。

规格提醒:TS-26D具备三种测量口径,适合按样品面积、局部测点或小面积区域调整测量条件。若样品含荧光、增白剂、纹理、光泽差异、粉体、曲面或特殊材质,建议提供样品信息,确认口径、SCI/SCE与UV条件。以上规格按当前产品资料整理;实际规格、配件及软件功能请以原厂或支点科技确认的供货版本为准。

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