LS152镀膜厚度在线监控系统｜薄膜透过率与光密度检测
LS152通过监测材料的光学透过率和光密度（OD），在线跟踪薄膜产品的镀层厚度及均匀性。最多支持45个测量点，可选850 nm红外线及530 nm绿光。请根据产线和涂层材料确认配置与校准条件。
LS152 镀膜厚度在线监控
以光学透过率与光密度数据监控薄膜镀层厚度
LS152 镀膜厚度监控系统用于真空镀膜及连续式薄膜生产线。系统监测材料的光学透过率（T%）与光密度（OD），协助追踪镀层厚度及产品均匀性，作为制程质量管理的参考。
系统最多支持45个测量点，可依产线配置探头，并通过人机界面查看测量数据。测量精度与镀层材料、基材、探头位置、校准方法及现场条件有关，实际选型前请确认应用需求。
01
透过率与光密度双指标
监测光学透过率和光密度变化，协助评估薄膜镀层厚度及均匀性。
02
非接触式光学测量
以光学方式读取材料信号，适用于连续生产线上薄膜产品的监控需求。
03
多点监控配置
最多支持45个测量点，可按有效幅宽、探头间距及质量控制要求规划布局。
04
红外线与可选绿光
标准测试波长为850 nm红外线，可选530 nm绿光；请按材料特性确认波长。
05
通讯与产线整合
支持双路RS485及标准MODBUS协议，便于依现场需求规划监控与资料传输。
06
独立人机界面
配有人机界面显示测量数据；电脑监控及真空法兰配置请依系统方案确认。
透过率与光密度读数会受材料及测量条件影响。请提供基材、镀层、线速、测点及安装空间等资料，以确认校准方式、探头布局与可用功能。欢迎联系我们讨论应用。
| 产品型号 | LS152镀膜厚度监控仪／真空镀膜在线测厚仪 |
|---|---|
| 测试波长 | 850 nm红外线，可选530 nm绿光 |
| 测量光斑 | 直径5 mm圆形 |
| 透过率测量精度 | 优于 ±1%（无色均匀透明材料） |
| 透过率分辨率 | 0.005% |
| 光密度测量范围 | 0.00 OD–5.00 OD |
| 光密度分辨率 | 0.01 OD：0.00–3.00 OD；0.05 OD：3.00–5.00 OD |
| 最大测量点数 | 45 点 |
| 相邻探头间距 | 最小 35 mm |
| 光源探头与接收探头间距 | 20 mm |
| 工作温度 | -10°C–60°C |
| 存储温度 | -20°C–70°C |
| 相对湿度 | < 85%，不结露 |
| 数据刷新周期 | 普通模式 300 ms／快速模式 100 ms |
| 通信接口 | 双路 RS485 |
| 通信协议 | 支持标准 MODBUS 协议 |
| 仪器尺寸 | 长度可按需求定制 × 宽 80 mm × 高 180 mm |
| 真空法兰电极芯数 | 6 根（不配置电脑监控）；9 根（配置电脑监控） |
| 电源 | AC 220 V，0.2 A，50 Hz |
| 备注 | LS152适用于真空镀膜、卷对卷镀膜、玻璃镀膜、隔热膜及可透光薄膜材料的透过率 T% 与光密度 OD 在线监控。产品规格和定制配置如有更新，请以原厂或支点科技确认为准；实际导入需根据材料透光特性、镀膜工艺、测点数量、设备空间、通信接口及控制逻辑进行确认。 |
LS152 镀膜厚度监控系统
产品介绍与操作演示
通过视频了解 LS152 如何利用透过率与光密度数据，监控薄膜镀层厚度与均匀性。实际测量表现会因材料、探头位置和产线条件而异。
测量原理
透过率与光密度监控
演示系统如何读取光学信号，并将测量结果用于薄膜镀层的在线监控。安装与校准方式请依材料和现场条件确认。
系统应用
多点测量与产线整合
查看 LS152 多点配置及产线监控应用示例。可用测量点数与探头布局应按生产线宽度和监测需求选择。