NR20XE 大口径高精度色差仪(20 mm,45°/0°)

NR20XE 是一款采用 45°/0° 光学几何结构和 Φ20 mm 大口径的立式色差仪,适用于纹理、颜色分布不均及部分潮湿表面的色差比对。可用于来料检验、制程巡检和出货质量检查,并支持 CIE Lab、XYZ 与 ΔE 评估。选型前请确认样品材质、表面状态、湿度、取样面积、定位方式及品管流程。

NR20XE 高精度色差仪|20 mm 大口径,适用于纹理表面与潮湿样品比色

NR20XE 采用 45°/0° 光学几何结构和 Φ20 mm 大口径,适合表面有纹理、颜色分布不均或需要较大取样面积的样品色差比对,可用于来料检验、制程巡检、日常品管及出货检查。直立式结构可评估用于潮湿表面或特定液体相关测量;实际使用前请确认样品材质、容器、表面状态、湿度、定位方式和内部品管流程。

产品特点

面向大口径取样、快速色差比对、现场质量检查和电脑端色彩数据管理。

20 mm 大测量口径

覆盖较大取样区域,适合纹理、颗粒或颜色分布不均的样品,降低单点取样造成的判定差异。

立式结构

可按样品条件评估潮湿表面或液体相关测量方式;请先确认容器、液面稳定性及测量条件。

照明与十字定位

帮助操作人员对准测量位置,适合固定测点、重复测量和现场快速判定。

新型光路与动态积分时间

3nh 光路与动态积分时间设计可作为评估测量稳定性和重复性的参考,实际表现取决于样品与操作方式。

环形照明设计

适合评估具有方向性、偏光特征或表面反射差异的材料,减少测量角度对结果的影响。

45°/0° 光学几何

测量几何接近一般目视观察条件,可用于表面颜色比对及 CIE Lab、ΔE 判定。

可充电锂电池

适用于现场巡检、移动测量和产线抽测,减少一次性电池更换。

CQCS3 色彩质量管理软件

可连接电脑查看数据、记录质量检查并进行色差分析;功能依软件版本和工作流程而定。

适用场景评估

纹理与粗糙表面

对纹路、颗粒、纤维或颜色分布不均的样品进行大口径色差比对。

潮湿或特殊样品

依样品条件评估潮湿表面或液体相关测量,使用前确认样品固定与测量方法。

现场品管巡检

用于来料检验、制程抽测、批次比对及出货前颜色确认。

电脑端数据管理

搭配 CQCS3 软件查看数据并记录质量检查,协助建立色彩管理流程。

选型与使用提示

NR20XE 面向 20 mm 大口径色差比对、纹理表面、潮湿表面和日常品管。对于高光泽、透明、半透明、曲面或颜色高度不均的样品,建议先确认测量口径、取样位置、固定方式、平均测量方法和内部允收标准。若需完整光谱、多光源分析、SCI/SCE 切换或供应链色彩追溯,可进一步评估手持式分光测色仪。

联系支点科技确认 NR20XE 选型需求


NR20XE 高精度色差仪规格表

以下参数供 NR20XE 选型、采购及日常质量管理评估参考。该型号采用 45°/0° 测量结构与 Φ20 mm 口径,适用于较大面积、纹理或潮湿表面的色差比对。具体适用性请按样品和质量控制流程确认。

产品型号NR20XE 色差仪
几何测量结构45/0(45° 入射,0° 接收);符合 CIE No.15、GB/T 3978
检测传感器硅光电二极管阵列
分光方式不适用
积分球尺寸Φ40 mm
照明光源全光谱 LED 光源
测量波长范围不适用
观察光源D65
波长间隔不适用
反射率测量范围不适用
测量口径Φ20 mm
照明方式SCI
颜色空间CIE LAB、XYZ、LCh
色差公式ΔE*ab
其他色度指标不适用
观察者角度10°
显示参数样品色度值、色差值、合格/不合格结果、颜色偏向
测量时间约 1.5 秒
重复性ΔE*ab ≤ 0.08(预热校正后,间隔 5 秒测量白板 30 次并取平均值)
台间差ΔE*ab ≤ 0.4(测量 BCRA Series II 12 色板并取平均值)
测量方式单次测量
定位方式对准定位
尺寸205 × 67 × 80 mm
重量约 400 g
电池可充电锂电池
光源使用寿命约 5 年,超过 160 万次测量
显示屏2.8 英寸 TFT 全彩屏
连接方式USB
数据存储100 个标准样、20,000 个测试样
软件支持CQCS3 质量管理软件
语言繁体中文、简体中文、English
工作温度0–40℃;相对湿度 0–85%,无凝露
储存温度-20–50℃,无凝露
标准配件电源适配器、说明书、腕带、白板、数据线、质量管理软件(官网下载)、Φ20 平台测量口径
选配配件微型打印机、粉末测试盒
备注规格如有变更,请以支点科技确认信息或原厂最新文件为准。

选型提示:适用于 20 mm 大口径色差比对、纹理或潮湿表面及日常品管。对高光泽、透明、半透明、曲面或颜色高度不均的样品,请先确认测量口径、取样位置、固定方式、平均方法和内部允收标准。若需要完整光谱、多光源分析或 SCI/SCE 切换,可进一步评估分光测色仪。

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