非接触式表面电阻量测
支点科技所代理的美国Delcom 非接触式电阻量测 系统采用最先进的涡电流量测技术,打破传统涡电流量测的范围局限以及非线性以及造成的重复性不佳等问题, Delcom以创新的技术超越贝尔实验室的涡电流量测基础理论。因此与同类产品和技术相比，Delcom可提供更稳定的读数,更大的量测范围,更高的精准度和精确度。
Delcom的S3 非接觸式表面電阻量測系統 採用非破壞式的渦電流技術,透過測量線圈中阻抗的變化來測量待測物的表面電阻。是一種快速且精準的量測法。在樣品無法使用四點探針量測的情況下,無論是半導體,面板,太陽能,材料,等相關應用的量測,絕對是您量測表面電阻的最佳利器。量測,您有更好的選擇。
支點科技所代理的 Delcom 20J3 非接觸式表面電阻 量測模組,採用非破壞式渦電流技術,透過測量線圈中阻抗的變化來測量待測物的表面電阻。是一種快速且精準的量測法。在樣品無法使用四點探針量測且動態狀況下, 無論是半導體,面板,太陽能,材料,等相關應用的量測,絕對是您量測表面電阻的最佳利器。量測,您有更好的選擇。
Delcom的30C9 非接觸式表面電阻量測系統 採用非破壞式的渦電流技術,透過測量線圈中阻抗的變化來測量待測物的表面電阻。是一種快速且精準的量測法。在樣品無法使用四點探針量測的情況下,無論是半導體,面板,太陽能,材料,等相關應用的量測,絕對是您量測表面電阻的最佳利器。量測,您有更好的選擇。
支點科技所代理的 Delcom small gap 非接觸式表面電阻 量測模組,採用非破壞式渦電流技術,透過測量線圈中阻抗的變化來測量待測物的表面電阻。是一種快速且精準的量測法。在樣品無法使用四點探針量測且動態狀況下, 無論是半導體,面板,太陽能,材料,等相關應用的量測,絕對是您量測表面電阻的最佳利器。量測,您有更好的選擇。
支點科技所代理的 Delcom large gap 非接觸式表面電阻 量測模組,採用非破壞式渦電流技術,透過測量線圈中阻抗的變化來測量待測物的表面電阻。是一種快速且精準的量測法。在樣品無法使用四點探針量測且動態狀況下, 無論是半導體,面板,太陽能,材料,等相關應用的量測,絕對是您量測表面電阻的最佳利器。量測,您有更好的選擇。