CMT-100MP｜手持式四探针表面电阻测量设备
CMT-100MP 是手持式四探针表面电阻测量设备，可用于薄膜、玻璃、导电材料、ITO / TCO、太阳能材料、晶圆切片、镀膜样品及研发材料的表面电阻、方块电阻或电阻率快速检测。相较于平台式四探针系统，CMT-100MP 更适合现场快速确认、样品初筛、来料检验，以及不便放置于平台的大型样品或局部区域测量。实际选型仍需根据样品尺寸、表面状态、电阻范围、探针接触条件及检测目的确认。
产品特点
CMT-100MP 手持式四探针薄层电阻测量应用
CMT-100MP 可用于芯片、薄膜、太阳能电池、导电膜、ITO / TCO 及研发样品的薄层电阻、表面电阻与方块电阻测量，适合现场快速确认、来料检验、小尺寸样品测试及局部区域测量。实际使用仍需根据样品尺寸、表面状态、电阻范围、探针接触条件及检测目的确认。
01
芯片、薄膜与太阳能电池测量
可用于芯片、薄膜、太阳能电池等薄层材料的表面电阻与方块电阻测量，适合研发测试、制程确认及现场快速检查。
02
多种测量单位显示
表面电阻测量结果可依需求显示 ohm、ohm/sq、ohm·cm 与 S 等单位，方便不同材料及检测目的下的数据判读。
03
手动控制杆中心单点测量
通过手动控制杆向下接触样品中心 1 点进行测量，操作直观，适合现场快速确认及小批量样品检查。
04
JANDEL 探针头配置
使用 JANDEL 探针头，作为接触式四探针表面电阻测量的关键配置。实际测量条件仍需依据样品表面状态、接触稳定性及测量流程确认。
选型提醒：CMT-100MP 更适合手持式或半手动中心单点测量需求；如需固定平台、自动下压、多点 Mapping、2D / 3D 分析或大尺寸样品测量，建议依据样品尺寸与数据分析需求评估其他 AiT 四探针系列设备。
CMT-100MP 手持式四探针表面电阻测量规格
以下规格可作为芯片、薄膜、太阳能电池、导电膜及研发样品的薄层电阻、表面电阻与方块电阻测量初步参考。实际测量条件仍需根据样品尺寸、表面状态、电阻范围、探针接触条件及检测目的确认。
| 规格项目 | CMT-100MP 规格说明 |
|---|---|
| 测量范围 | 1 mΩ/sq–2 MΩ/sq |
| 操作方式 | 操作者将样品放置于测试平台后按下测量键。系统可自动调整测量范围，并显示读数、小数点与倍率。 |
| JANDEL 四点探针探头 | 采用 JANDEL 设计的快速安装接头／转换器探头，无需特殊工具或对准治具，可在短时间内完成安装；全机标准配置 JANDEL 探头。 |
| 测量数据显示 | 测量数据可直接显示于设备主机面板上。 |
| 测量速度 | 约 2 ± 1 秒／点 |
| 内部元件精度 | ±0.5%（高精度电阻） |
| 维护与服务 | 采用微处理器技术，电子元件安装于便于更换的印刷电路板上，便于后续维护与服务评估。 |
备注：以上资料为产品规格参考，实际测量表现仍需根据样品表面状态、探针接触稳定性、操作方式、测量环境及品管流程确认。