Delcom 桌上型／模块型／在线型综合非接触式表面电阻测量系统
Delcom 桌上型／模组型／在线型非接触式表面电阻测量系统
Delcom 桌上型／模组型／在线型非接触式表面电阻测量系统，适合需要在实验室测试、品管检查、设备整合与制程导入之间灵活评估的材料电性测量需求。本分类可根据样品条件、测量方式、安装空间、数据输出及是否需要整合产线，初步评估 S3、20J3、30C9 等机型。
Delcom S3
适用于材料研发、样品测试、品管检查及制程导入前评估，可作为手持、桌上型测试与现场应用之间的非接触式表面电阻测量方案。实际配置仍需根据样品尺寸、厚度、导电层位置与测量目的确认。
查看 S3 产品信息Delcom 20J3
适合需要模块化整合、治具搭配或设备端导入的应用场景。若需固定测量位置、设备内部安装或特定数据输出流程，可根据安装空间、传感器位置与测量距离评估 20J3。
查看 20J3 产品信息Delcom 30C9
可用于动态样品、连续材料或制程端测量评估，适合需要较高整合弹性、制程监控或连续材料检测的非接触式表面电阻应用。实际导入前需确认产线速度、安装空间与通信需求。
查看 30C9 产品信息可用于导电薄膜、ITO、TCO、半导体、面板、太阳能材料及相关镀膜材料的表面电阻测量。实际选型仍需根据样品材料、厚度、导电层位置、预计 ohm/sq 范围、测量方式以及是否需要整合设备或数据系统确认。如需先了解片电阻与 ohm/sq，可延伸阅读 什么是表面电阻 Rs（Sheet Resistance）。
Delcom的S3 非接触式表面电阻量测系统 采用非破坏式的涡电流技术,透过测量线圈中阻抗的变化来测量待测物的表面电阻。是一种快速且精准的量测法。在样品无法使用四点探针量测的情况下,无论是半导体,面板,太阳能,材料,等相关应用的量测,绝对是您量测表面电阻的最佳利器。量测,您有更好的选择。
支点科技所代理的 Delcom 20J3 非接触式表面电阻 量测模组,采用非破坏式涡电流技术,透过测量线圈中阻抗的变化来测量待测物的表面电阻。是一种快速且精准的量测法。在样品无法使用四点探针量测且动态状况下, 无论是半导体,面板,太阳能,材料,等相关应用的量测,绝对是您量测表面电阻的最佳利器。量测,您有更好的选择。
Delcom的30C9 非接触式表面电阻量测系统 采用非破坏式的涡电流技术,透过测量线圈中阻抗的变化来测量待测物的表面电阻。是一种快速且精准的量测法。在样品无法使用四点探针量测的情况下,无论是半导体,面板,太阳能,材料,等相关应用的量测,绝对是您量测表面电阻的最佳利器。量测,您有更好的选择。