桌上型与线上综合型(Benchtop & Inline Hybrid)

Delcom的S3 非接触式表面电阻量测系统 采用非破坏式的涡电流技术,透过测量线圈中阻抗的变化来测量待测物的表面电阻。是一种快速且精准的量测法。在样品无法使用四点探针量测的情况下,无论是半导体,面板,太阳能,材料,等相关应用的量测,绝对是您量测表面电阻的最佳利器。量测,您有更好的选择。

支点科技所代理的 Delcom 20J3 非接触式表面电阻 量测模组,采用非破坏式涡电流技术,透过测量线圈中阻抗的变化来测量待测物的表面电阻。是一种快速且精准的量测法。在样品无法使用四点探针量测且动态状况下, 无论是半导体,面板,太阳能,材料,等相关应用的量测,绝对是您量测表面电阻的最佳利器。量测,您有更好的选择。

Delcom的30C9 非接触式表面电阻量测系统 采用非破坏式的涡电流技术,透过测量线圈中阻抗的变化来测量待测物的表面电阻。是一种快速且精准的量测法。在样品无法使用四点探针量测的情况下,无论是半导体,面板,太阳能,材料,等相关应用的量测,绝对是您量测表面电阻的最佳利器。量测,您有更好的选择。