线上型(Inline Instruments)
复制自 - Delcom small gap 非接触式表面电阻量测模组
支點科技所代理的 Delcom small gap 非接觸式表面電阻 量測模組,採用非破壞式渦電流技術,透過測量線圈中阻抗的變化來測量待測物的表面電阻。是一種快速且精準的量測法。在樣品無法使用四點探針量測且動態狀況下, 無論是半導體,面板,太陽能,材料,等相關應用的量測,絕對是您量測表面電阻的最佳利器。量測,您有更好的選擇。
Delcom small gap 非接触式表面电阻量测模组
支點科技所代理的 Delcom small gap 非接觸式表面電阻 量測模組,採用非破壞式渦電流技術,透過測量線圈中阻抗的變化來測量待測物的表面電阻。是一種快速且精準的量測法。在樣品無法使用四點探針量測且動態狀況下, 無論是半導體,面板,太陽能,材料,等相關應用的量測,絕對是您量測表面電阻的最佳利器。量測,您有更好的選擇。
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