四点探针表面电阻量测

支点科技代理的AiT 四点探针 表面电阻量测 系统,搭配英国Jandel高稳定探头,充分发挥四点探针在表面电阻(ohm/sq),体积电阻(ohm-cm)上量测的高精度表现。多功能Mapping软体,让分析如虎添翼,无论阻抗的均匀性分析,或是透由阻抗计算的厚度数据,让您的量测更上一层楼。

半自動 12吋晶圓四點探針量測系統

支點所代理的 AiT 12吋晶圓四點探針量測系統,搭配英國Jandel高穩定探頭,充分發揮CMT-SR5000 四點探針在表面電阻(ohm/sq),體積電阻(ohm-cm)上量測的高精度表現。多功能Mapping軟體,讓分析如虎添翼,無論阻抗的均勻性分析,或是透由阻抗計算的厚度數據,讓您的量測更上一層樓。

半自动 Solar PV 四点探针量测系统

支点所代理的 AiT 半自动 Solar PV 四点探针量测系统(Solar-Cell 156*156mm),搭配英国Jandel高稳定探头,充分发挥CMT-SR2000NH-PV 四点探针在表面电阻(ohm/sq),体积电阻(ohm-cm)上量测的高精度表现。多功能Mapping软体,多种面向图形判断分析,使量测如虎添翼,让您的品质更上一层楼。

半自動 導電薄膜四點探針量測系統 (FPD/Glass/ThinFilm)

支點所代理的 AiT 導電薄膜四點探針量測系統 是針對面板/觸控/材料產業所設計, 半自動的大尺寸平台,搭配英國Jandel高穩定探頭,充分發揮CMT-SR3000S在表面電阻(ohm/sq)上量測的高精度表現。多功能Mapping軟體,讓均勻性分析如虎添翼。量測平台尺寸可客製化設計, 更符合您所需的測試條件。

半自動 4吋晶圓四點探針量測系統 (100mm Φ)

支點所代理的 AiT 4吋晶圓四點探針量測系統,搭配英國Jandel高穩定探頭,充分發揮CMT-SR1000N 四點探針在表面電阻(ohm/sq),體積電阻(ohm-cm)上量測的高精度表現。多功能Mapping軟體,讓分析如虎添翼,無論阻抗的均勻性分析,或是透由阻抗計算的厚度數據,讓您的量測更上一層樓。

半自動 8吋晶圓四點探針量測系統 (200mm Φ)

支點所代理的 AiT 8吋晶圓四點探針量測系統,搭配英國Jandel高穩定探頭,充分發揮CMT-SR2000N 四點探針在表面電阻(ohm/sq),體積電阻(ohm-cm)上量測的高精度表現。多功能Mapping軟體,讓分析如虎添翼,無論阻抗的均勻性分析,或是透由阻抗計算的厚度數據,讓您的量測更上一層樓。

手動四點探針量測系統 (220*220mm)
入门型手动四点探针量测系统 ​(190*190mm)

支點所代理的 AiT 入門型手動四點探針量測系統,搭配Signatone探頭,充分發揮CMT-100S 四點探針在表面電阻(ohm/sq),體積電阻(ohm-cm)上量測的高精度表現。主機與探針台一體,節省量測空間,主機內部為模組插槽設計,維護更方便。是一套高精度高穩定性高CP值的標準四點探針量測系統。

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